ЦНИИИАПродукция

АИС контроля параметров СВЧ устройств, магнитов и магнитных систем, цифровых и аналоговых микросхем

Автоматизированные измерительные системы на основе магистрально-модульного принципа построения на базе унифицированных электронных модулей, узлов, блоков, стандартных шин, протоколов обмена и программного обеспечения

Автоматизированные измерительные системы обеспечивают измерения различных параметров активных и пассивных микроволновых приборов в корпусах и на пластине в различных частотных диапазонах путем замены генератора, элементов микроволновых передающих линий (пробники, смесители, детекторы, ответвители и т.д.), а также измерения магнитных параметров, параметров материалов.

Обмен командами управления и данными между главным компьютером и аппаратными узлами измерительной системы выполняется с помощью многофункциональных плат сбора данных или специализированных плат контролеров, интерфейсов, шин управления по протоколам USB, RS232, RS485.

Измеряемые параметры:

  • Модуль и фаза коэффициента отражения
  • Модуль и фаза коэффициента передачи
  • Усиление и коэффициент шума
  • Мощность
  • Напряженность магнитного поля
  • Магнитная индукция
  • Магнитные и диэлектрические параметры материалов
  • Комплекс параметров микросхем

Универсальность оборудования достигается блочно-модульным построением. В зависимости от требований, оперативности и экономической целесообразности блочно-модульная архитектура позволяет встраивать в специализированные измерительные системы промышленные отечественные и импортные приборы, блоки и узлы.

Структура АИС, перечень измеряемых параметров и их значения оговариваются при согласовании технических требований на систему.